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    光學薄膜測量儀

    簡要描述:GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀——手機屏透過率檢測系統是能快速準確地測量手機屏幕目的透光率以及各類平面光學元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢的儀器。

    • 產品型號:GL-SPM-D2T
    • 產       地:上海市
    • 更新時間:2020-08-06
    • 訪  問  量:195
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    品牌自營品牌應用領域綜合

    尤尼柯(上海)儀器有限公司成立于1995年,是一家有20多年集科研、開發、銷售、技術咨詢服務于一體的規?;?、專業化、集團化的高科技型企業。“質量可靠的產品、先進的服務理念”是尤尼柯至創立以來始終堅持奉行的服務理念,技術是尤尼柯永遠的核心競爭力。

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    尤尼柯在英國、美國、中國設有專門的研發機構負責尤尼柯系列產品的開發和研制。我們將不斷開拓進取,挑戰更高的目標,努力為市場提供好產品。

    優質管理 誠信服務

    高質量的企業文化管理,發揚光大團結協作、勇于拼搏、愛崗敬業、大膽創新的精神,使我們在點滴中持之以恒。至高的誠信服務是我們一切商業行為的根本準則,我們訓練有素的服務團隊將為客戶提供完善的售前、售中、售后服務。

    GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀?——手機屏透過率檢測系統是能快速準確地測量手機屏幕目的透光率以及各類平面光學元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢的儀器。

    光學薄膜測量儀能快速準確地測量各類平面光學元件的透射率,可用于實時在線檢測,實現產品全檢。適用于手機屏、手機膜、手機殼、眼鏡、太陽鏡、防曬保護膜的透光率測量,塑料制品的透光率測量,透明或半透明材料透光率測量/棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學元件的檢測。

    GL-SPM-D2T光學薄膜測量儀規格參數:

    項目

    指標

    備注

    波長范圍

    190-800nm

    取決于光柵

    光譜分辨率

    FWHM0.84@577μm狹縫

    與波長和狹縫有關

    雜散光

    0.06%@532nm,0.045%@785

    與波長有關

    光源

    20W鹵素燈、氘燈

     

    積分時間

    8ms-15min

    與CDD有關

    電源

    220V@50Hz

     

    USB數據線

    1.5m帶有USBmini-B接頭的數據線

     

    光譜儀自動配置

    自動配置包括讀標定參數

     

    數據輸出

    灰度值隨波長或CCD像素變化(可選擇)

     

    尺寸

    450mm*300mm*207mm

     

    重量

    6.5KG

     

    工作溫度

    0℃~45℃

     

     

     


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